HUBER+SUHNER - 高速数据测试

发布者：广域信通讯发布日期：2013-05-17

HUBER+SUHNER® – 作为电气和光学连接技术元器件和系统领域居国际领先地位的厂商，尤其是在射频及微波元件的开发和生产上有着几十年的丰富经验。我们提供的卓越的连接产品在通信、交通以及工业领域得到了众多顶尖公司的肯定。

在数据传输中，超过每秒百兆位的高数字比特率具有高频频谱分量，已经属于射频的范畴, 真实设备中的高速数字信号将表现出射频特征，这就要求在测试系统中在这些信号通路上应该采用射频甚至超高频率的微波元件。

技术的不断发展，对于带宽和数据传输速率的要求也越来越高，计算机、路由器、交换机等设备需要很高速率的集成电路支持。如何对新产品进行有效的测试是摆在众多芯片研发，封装测试和生产厂商面前的难题，目前市场缺少能够完全满足其测试要求的连接解决方案。

H+S把自己的高频技术与数据传输技术巧妙地融合在一起，针对高速测试提供完整的连接方案，同时保证更好的信号质量。用户可以在测试中获得更低的传输损耗和更高的屏蔽效能以避免窜扰的影响。同时，高频产品的大带宽能够在解析高次谐波（3次谐波甚至5次谐波）时获得更好性征的眼图。